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XRF之X射线元素成分分析仪

点击次数:7 更新时间:2019-04-03


X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。


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XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。


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不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同,因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。射线强度与相应元素在样品中的含量有关,因此通过测试其强度实现元素的定量分析。


检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析,在某种程度上与原子吸收光谱仪实现互补。


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